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- 2023-05-10 发布于四川
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本发明涉及二极管领域,具体为技术为一种发光二极管测试设备及测试方法,包括检测板,所述检测板的上端开有滑槽,所述滑槽的内部活动插接有滑块,所述滑槽的后端中部开有限位滑槽,且限位滑槽的内部活动插接有滑动块,所述滑动块的中部开有螺孔,所述螺孔的内部通过螺纹插接有螺杆,所述螺杆的右端固定连接有传动电机,所述滑块的左端前后侧开有第一半圆槽,所述第一半圆槽的中部开有收纳槽,所述收纳槽的内部活动插接有挤压块,所述挤压块的左端固定连接有触头弹性片。通过设备的整体结构,能够快速的检测多个二极管,使得二极管的检测更
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114518515 A
(43)申请公布日 2022.05.20
(21)申请号 202210052291.3
(22)申请日 2022.01.18
(71)申请人 江苏国中芯半导体科技有限公司
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