1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

测试方法及测试系统.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.77万字
  • 约 16页
  • 2023-05-10 发布于四川
  • 举报

测试方法及测试系统.pdf

    本发明实施例提供一种测试方法及测试系统，测试方法用于获取待测存储器的ZQ校准时间，包括：向ZQ校准模块提供初始化命令，以使终结电阻的电阻值为第一最值；向ZQ校准模块提供ZQ校准命令，以使终结电阻的电阻值由第一最值递增或递减至第二最值，第一最值和第二最值的其中一个为最大值，另一个为最小值；获取第一时间节点，第一时间节点为ZQ校准命令的发送时间；获取第二时间节点，第二时间节点为终结电阻的电阻值变化至第二最值的时间；基于第二时间节点和第一时间节点，获取ZQ校准时间；本发明实施例以一种低成本的方式，便捷

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114520018 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202011297404.3 (22)申请日 2020.11.18 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >