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- 2023-05-13 发布于四川
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本发明公开一种光检测装置及光检测系统，在该装置中，在平面图中，第一导电类型的第一半导体区域与第三半导体区域的至少一部分重叠，第二半导体区域与第二导电类型的第四半导体区域的至少一部分重叠，第三半导体区域的关于第一导电类型的电荷的电位的高度低于第四半导体区域的电位的高度，并且第一半导体区域的电位的高度与第三半导体区域的电位的高度之间的差大于第二半导体区域的电位的高度与第四半导体区域的电位的高度之间的差。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114649431 A
(43)申请公布日 2022.06.21
(21)申请号 202210256628.2 H01L 31/107 (2006.01)
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