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一种用于定位复杂空间表面上的点(例如缺陷)的设备(10)，包括缺陷检测站(12)、定位站(21)(其可以与检查站重合)以及在适用的情况下的修复站(22)。在检测站(12)中，有图像采集组件(25)，该图像采集组件由定位器(15)沿着复杂表面上的预设路径移动，以便在通过合适的算法定义的时刻“I”，沿着该路径采集复杂表面的二维图像。在时刻“I”，采集组件(25)的预定点的空间坐标还与二维图像相关联。在采集的多个图像中搜索缺陷，并且将它们在二维图像中的坐标(X，Y)转换成复杂表面上的空间坐标(x，y，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112334760 A
(43)申请公布日 2021.02.05
(21)申请号 201980039649.5 亚利山德罗 ·迪吉罗拉莫
(22)申请日 20
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