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本发明公开了一种HF中杂质分离分析方法,采用具有双反吹系统的气相色谱,以高纯氦为载气,配置氦放电离子化检测器,包括以下步骤:S1,待测试的标准样品进样,绘制标准曲线;S2,做校正文件;S3,待测试的HF气体样品进样;S4,根据标准曲线,计算待测试的HF气体样品中各杂质含量;其中,S3中样品进样后,进样的气体分两路,一路经第一预柱和第一分析柱,进行分离和分析O2+Ar、N2、CH4、CO,一路经第二预柱和第二分析柱,进行分离和分析CO2,其中,在最后出峰的杂质从预柱流出后做反吹切阀,放空主组分。本
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112485347 B
(45)授权公告日 2023.04.11
(21)申请号 202011224522.1 审查员 胡秋馨
(22)申请日 2020.11.05
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