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本发明的实施方式涉及一种半导体存储装置及其制造方法。实施方式的半导体存储装置具备:衬底;积层膜,包含交替设置于所述衬底上的多个第1绝缘层及多个电极层;及第2绝缘层,设置于所述积层膜上。所述装置还具备包含依次设置于所述积层膜及所述第2绝缘层内的第1绝缘膜、电荷储存层、第2绝缘膜、第1半导体层、及第3绝缘膜的多个柱状部。进而,夹在所述柱状部间的所述第2绝缘层的宽度在所述第2绝缘层的至少一部分比夹在所述柱状部间的所述积层膜的宽度更细。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112510051 A
(43)申请公布日
2021.03.16
(21)申请号 20201
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