片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法.pdfVIP

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2023-06-01 发布于四川
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片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法.pdf

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本申请公开一种片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法。片上时钟控制装置包括信号输出模块，包括输入扫描寄存器和输出扫描寄存器，所述输入扫描寄存器用于从所述芯片接收输入信号，所述输入信号包括转换时钟信号和功能时钟信号，所述输出扫描寄存器用于根据所述转换时钟信号和所述功能时钟信号，分别输出第一测试信号和第二测试信号到频率相同的一个或多个所述时域电路中的待测试扫描寄存器，所述第一测试信号和所述第二测试信号依次对所述待测试扫描寄存器进行复位，以使得所述待测试扫描寄存器生成表征故障情况的测试结果信号

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112557887 A (43)申请公布日 2021.03.26 (21)申请号 202011284274.X (22)申请日 2020.11.17 (71)申请人 OPPO广东移动通信有限公司

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