一种相位精度调试方法.pdfVIP

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  • 2023-06-02 发布于四川
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本发明提供一种相位精度调试方法,首先为所有LTCC组合基板分别加工调试板和正样板,并通过调试板获取波束形成矩阵的初始相位精度,再通过初始相位精度设计正样板表面相位线,实现相位精度的粗调;然后把修正后的表面相位线再印制于正样板表面,最后通过切割正样板表面的调试相位线来改变信号的路径长度,进而改善相位精度,实现相位精度的细调;由此可见,本发明通过在正样板表面印制相位线把系统中所有部件的相位误差集中在一起,再通过对表面印制相位线的调试集中消除或减小相位误差,操作简单方便,不会影响系统的可靠性,同时也不

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115801082 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211197172.3 (22)申请日 2022.09.29 (71)申请人 苏州博海创业微系统有限公司 地址

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