晶圆检测系统及检测方法.pdfVIP

  • 48
  • 0
  • 约1.07万字
  • 约 9页
  • 2023-06-05 发布于四川
  • 举报
本发明提供一种晶圆检测系统及检测方法。晶圆检测系统包括入射光源、分束镜、多个偏光片、信号接收装置及分析装置;分束镜位于入射光源的一侧,用于将入射光源的入射光线分成多束;多个偏光片位于分束镜远离入射光源的一侧,偏光片的入射面与入射光线的夹角小于90°;分束后的多束入射光线一一对应入射到所述多个偏光片的表面,经所述偏光片一一对应反射到待检测的多个晶圆的表面;信号接收装置位于偏光片远离晶圆的一侧,用于接收经晶圆反射的光线;分析装置与信号接收装置相连接,用于根据信号接收装置接收的光线对晶圆进行分析检测。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112748126 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 20191

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档