碳化硅晶片以及碳化硅晶片的制备方法.pdfVIP

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  • 2023-06-05 发布于四川
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碳化硅晶片以及碳化硅晶片的制备方法.pdf

本发明涉及碳化硅晶片以及碳化硅晶片的制备方法。晶片是具有基于(0001)面呈从0度到15度中选择的角度的偏角的晶片,测量点是将所述晶片的表面以10mm以下的一定间隔划分的多个地点,目标区域是共享所述晶片的中心并且半径为所述晶片半径的70%圆的内部区域,所述测量点位于所述目标区域,所述测量点的摇摆曲线具有峰和半峰宽,ω角的平均值是目标区域中测量点的峰具有的ω角的平均值,所述半峰宽是基于所述ω角的平均值的值,所述目标区域包括95%以上的测量点,其半峰宽为‑1.5到1.5度。可以精确地控制晶体生长的温

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112746324 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 20201

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