被测装置取向和射频测量的相关性.pdfVIP

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  • 2023-06-05 发布于四川
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描述了用于集成电路(IC)的硬件定时测试的天线表征系统和方法,所述IC具有被配置用于空中传输和/或接收的集成天线。待测试IC(例如,被测装置(DUT))可以被安装到电波暗室中的可调定位器。所述IC的射频(RF)特性(例如,包含传输特性、接收特性和/或波束形成特性)可以使用所述电波暗室内的天线或探针阵列在空中进行测试,同时将所述可调定位器在多个取向中连续地转变。计数器和参考触发智能可以用于将测量结果与所述DUT的取向相关。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112752976 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 201980062564.9 (74)专利代理机构 中国贸促会专利商标事务所

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