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- 2023-06-06 发布于四川
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本发明总体上涉及科学分析设备的组件。更具体地,本发明涉及用于检测和定量粒子的设备和方法,特别是用于检测和定量质谱过程中产生的离子的设备和方法。在一个版本中,本发明提供了一种具有电子发射表面的粒子检测设备,该电子发射表面响应于与粒子的撞击而发射二次电子,该设备保持(i)由于第一粒子在电子发射表面的第一区域中的撞击而发射的二次电子与(ii)由于第二粒子在电子发射表面的第二区域中的撞击而发射的二次电子之间的空间分离。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115769338 A
(43)申请公布日 2023.03.07
(21)申请号 202180041237.2 (74)专利代理机构 北京知帆远景知识产权代理
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