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一种用于扫描影响因素的评价方法.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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一种用于扫描影响因素的评价方法.pdf

    本发明提供一种用于扫描影响因素的评价方法，以不同条件下的被测件为研究对象，开展曲面扫描影响因素的技术研究。通过精密的测量系统来获取被测件表面离散的几何坐标数据，获取样件的表面三维信息，对扫描的数据进行预处理，实现复杂曲面的构建。同时，分析点云测量误差的来源和点云测量误差对曲面轮廓评定的影响，为研制高精度大型空间曲面标准装置，搭建扫描测量系统误差分析和校准方法验证系统，实现技术验证。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112762856 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202011612662.6 (22)申请日 2020.12.29 (71)申请人 中国航空工业集团公司西安飞机设

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