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本发明提供了一种用于电子控制器的耐久测试系统及方法，耐久测试系统包括测试管理装置，请求服务装置和硬件驱动装置；测试管理装置用于提供测试管理和操作界面；请求服务装置为测试管理装置和硬件驱动装置建立数据关联和交互服务；硬件驱动装置用于控制和直接访问待测试电子控制器的硬件资源；其中，测试管理装置包括参数配置模块，参数配置模块用于导入耐久测试的配置信息。耐久测试系统的参数配置模块使得耐久测试系统具有很好的软件通用性，能支持ECU、TCU、BCM、VCU、BMC等各种电子控制器的耐久测试；进一步地，耐久测
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112925285 A
(43)申请公布日
2021.06.08
(21)申请号 20191
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