一种新颖的DDR读写分离与眼图测试方法（精品）.pdfVIP

一种新颖的DDR3读写分离与眼图测试方法 【摘要】 DDR3 器件广泛应用于各种设备的单板，而在实际调试与测试中， DDR3 的读写时序 测试是非常复杂的也是最为耗时的。 本文比较各种读写分离方法优劣点及使用场合，通过分析 DDR3 读写时序的特点，利 用ODT 及读写前导码的时序关系，使用力科示波器特有的级联Cascaded 触发功能，提出一 种较为新颖的DDR3 的读写分离的眼图测试方法。 【关键词】DDR3，读写，ODT，时序，前导码，级联触发，眼图 【背景】 DDR3信号级测试主要包括电源测试、时钟信号测试、地址控制信号测试以及数据读写 测试。前三种测试较为简单，数据读写测试主要难点在于由于DQS与DQ是双向的，数据的 读操作和写操作同时出现在数据线上，仅仅从DQS与DQ比较难以区分哪些读数据，哪些是 写数据。目前有一些方法可以测试读写时序眼图。 （1）读操作代码或写操作代码。软件提供单独连续读的或连续写的代码，硬件测试时， 通过命令方式分别测试读时序或写时序，但是这需要软件开发专门的版本，耗时费力。 （2 ）引入逻辑分析仪，逻辑分析仪具有通道多，逻辑触发等优点，可以用在 DDR 读 写分离测试中，但是由于需要多通道输入，且不能准确实时地显示眼图，应用并不广泛。 （3 ）专用DDR 分析软件，目前主流实时示波器厂家都提供DDR 自动测试软件，能自 动将读写信号分离，如力科公司的QPHY-DDR3，安捷伦公司的N5413A DDR3 选件，泰克 公司的DDRA 和DPOJET 。这些软件一定程度上支持自动分离读写，但是由于操作不方便， 测试通用性也不好，另外，除了示波器和专用探头外，还需要单独购买此选件，增加预算成 本，实际应用不多。 那么，能否仅仅通过信号本身的特点实现读写分离，并生成眼图呢？ 【DDR3读写时序】 首先，我们看看 DDR3 的读时序和写时序差异在哪里，以标准《JESD79-3C DDR3 SDRAM STANDARD.pdf》中时序图及时序参数为例。 图1 DDR3 读时序与写时序 （上图为DDR3 的读时序，下图为DDR3 的写时序） 由图1 可见，DDR3 读写时序最大的差异在于，读操作时，DQS 信号的边沿在时序上 与DQ 的信号边沿对齐，写操作时，DQS 信号的边沿与DQ 信号的中心对齐，看起来差异 明显，但是这个区别不能够用来作为分离读写的触发条件，只能作为验证读写操作。那再看 看DQS 的差异，读前导t 和写前导t ，如图2 所示的读写前导的定义。 RPRE WPRE 图2 DDR3 读写时序的前导定义 （左图为读前导t ，右图为写前导t ） RPRE WPRE 读前导t 为负脉冲，写前导t 为先正脉冲后负脉冲，具体见表1 DDR3 读写前导 RPRE WPRE 时序参数。由于实际应用中，写前导t 中的后半个负脉冲一般等于半个时钟周期（0.5t ）， WPRE CK 为方便触发，增加一个写前导校正参数t （=t -0.5t ）。 WPRE_CR WPRE CK 表1 DDR3 读写前导时序参数 以DDR3-800 为例，读操作时，t 为大于等于0.9t ，写操作时，t 大于等于0.9t ， RPR