- 1、本文档共16页,其中可免费阅读15页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本申请公开了一种跨平台IC测试方法、装置、设备及介质,包括:加载测试用例,得到测试程序;其中,所述测试用例中封装有预先创建的测试操作定义,并且,所述测试操作定义在加载过程中转换为相应的测试指令;为所述测试指令指定IC测试平台;执行所述测试程序,将所述测试指令解析为对应的所述IC测试平台的可识别数据,并将所述可识别数据发送至对应的所述IC测试平台,以便所述IC测试平台执行所述可识别数据对应的操作,得到所述测试指令对应的执行结果。这样,能够实现测试用例在多个测试平台的复用,并且无需调试测试程序,而是
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113297083 B
(45)授权公告日 2022.08.19
(21)申请号 202110583845.8 CN 104063311 A,2014.09.24
(22)申请日 20
文档评论(0)