一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法.pdfVIP

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2023-06-24 发布于四川
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一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法.pdf

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本发明涉及一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法，包括确定二度体走向；在垂直二度体的平面上建立复平面，确定实轴和虚轴；在复平面上确定分数阶导数的起点与终点；定位板位于复平面上，测线圆绘制在定位板上，其过坐标系原点，圆心位于实轴上，通门插槽均匀分布于测线圆上，用于放置磁通门传感器；测线圆上取奇数个采样位置，测量采样位置上沿轴方向的两个磁场分量，构造复数向量；构造系数矩阵；以复数向量作为常数项，求解方程组，取出分数阶导数。本发明基于分数阶泰勒展，融合了磁场无源、无旋的性质，能用少量测点测得二度体的分数阶

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116299083 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202211566788.3 (22)申请日 2022.12.07 (71)申请人吉林大学地址 130012