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本发明涉及电子元件测试技术领域，特别是涉及测试装置。一种测试装置，用于测试电子元件，包括测试台及电路板，所述电路板与所述测试台电性连接；所述测试台上开设有进气孔、出气孔及气体流道，所述气体流道分别与所述进气孔及所述出气孔连通，气体能够从所述进气孔进入所述气体流道，从所述出气孔流出向并接触所述电路板，以将所述电路板的温度控制在‑10℃‑100℃范围之内。本发明的优点在于：如此设置，能够保护电路板及电路板上的元器件免受高温影响，延长寿命，同时能够缓解电路板结霜的问题，防止电路板短路，并且，能够降低电
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113777466 A
(43)申请公布日 2021.12.10
(21)申请号 202110866169.5
(22)申请日 2021.07.29
(71)申请人 杭州长川科技股份有限公司
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