荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法.pdfVIP

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2023-07-05 发布于四川
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荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法.pdf

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提供荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法，能够在同一试样容器内不变更配置地测定分析深度不同的元素。荧光X射线分析装置具有：试样容器(4)，其能够收纳试样(S)；X射线源(2)，其向试样照射原级X射线(X1)；检测器(3)，其检测从被照射了原级X射线的试样产生的荧光X射线(X2)；以及照射范围变更机构(5)，其能够变更向试样容器内的试样照射原级X射线的范围，照射范围变更机构能够变更为局部照射和宽范围照射，在该局部照射中，至少向靠近试样容器的与检测器对置的壁面的试样照射原级X射线，在该宽范围照射中

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 109459458 A (43)申请公布日 2019.03.12 (21)申请号 20181