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- 2023-07-29 发布于四川
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本发明的课题在于在将从试验体(W)泄露的氢气导入至分析管(100)进行检测的泄露检测器(X)中，使背景容易稳定化，且大幅度缩短背景恢复所花费的时间，能够在短时间内获得充分的测定精度。分析管(100)包括：离子源部(1)，使导入至其内部的氢气离子化而生成氢离子；离子收集器部(2)，检测氢离子的电流量；以及再流入抑制结构(71)、再流入抑制结构(72)、再流入抑制结构(73)，抑制在离子收集器部(2)中从离子变为无电荷的氢气再流入离子源部(1)。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116499649 A
(43)申请公布日 2023.07.28
(21)申请号 202211579402.2
(22)申请日 2022.12.09
(30)优先权数据
2022-010826 202
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