JB_T 9341.2-2013计量光栅 第2部分：数显表（卡）.pdf

ICS 37.020N 34备案号：44292—2014中华人民共和国机械行业标准JB/T 9341.22013代替 JB/T 9341.21999计量光栅第2部分：数显表（卡）Metrology gratingPart 2: Digital readout2013-12-31 发布2014-07-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T 9341.2--2013目次前言..范围.1 规范性引用文件23术语和定义4.分类及基本参数.5要求..主要技术指标.5.2计数性能.5.3外观5.4数显表的防护等级（IP）5.5数显表电气安全性能5.6数显表的抗干扰性…5.7运输环境条件。6试验方法.6.1试验条件.细分准确度.6.26.3示值稳定性6.4响应速度6.5计数性能6.6外观...6.7数显表的防护性能6.8电气安金性能，6.9数显表的抗干扰性.6.10运输环境条件。7检验规则7.1检验分类7.2出厂检验（即交货检验）7.3型式检验。8标志、包装、运输和贮存8.1　标志.8.2包装运输…8.38.4贮存 中华人民共和国机械行业标准计量光栅第2部分：数显表（卡）JB/T 9341.2--2013*机械工业出版社出版发行北京市百万庄大街22号邮政编码：100037*210mm×297mm·0.75印张·19千字2014年12月第1版第1次印刷*书号：15111·11473网址： http: //编辑部电话：（010销中心电话：（010)面无防伪标均为盗版JB/T 9341. 2-2013版权专有“侵权必究 JB/T 9341.2--2013前言JB/T9341《计量光栅》分为四个部分：第1部分：计量光栅术语；-第2部分：计量光栅数显表（卡);-第3部分：计量光栅玻璃光栅尺技术要求；第4部分：计量光栅玻璃光栅盘技术要求。本部分为JB/T9341的第2部分。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本部分代替JB/T9341.2—1999《计量光栅数显表试验方法》，与JB/T9341.2—1999相比主要技术变化如下：标准更名为“计量光栅数显表（卡）”；-补充了规范性引用文件、术语和定义、分类与基本参数、要求、标志、包装、运输和贮存；适用范围中增加了“数显卡”；修改了抗干扰性、电气安全性能的试验方法；增加了防护等级的要求；方法也做了相应修改；取消了“标准偏差测量”项目；-将附录A、B写入正文，内容也做了相应修改。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。本部分起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、工海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、苏州一光仪器有限公司、宁波永新光学股份有限公司、南京江南永新光学有限公司、南京东利来光电实业有限公司、宁波市教学仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、宁波舜宇仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司。本部分主要起草人：徐元玲、冯琼辉、胡清、范荣萍、曾丽珠、李晞、杨广烈、王国瑞、徐利明、张景华、胡森虎、李弥高、肖倩、夏硕。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：-JB/T 9341.2—1999。II JB/T 9341.2—2013计量光栅第2部分：数显表（卡）1范围试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本部分适用于以计量光栅作为信号源的数字显示仪表（以下简称：数显表）和以计量光栅作为信号源、并与计算机配合使用的数字显示卡（以下简称：数显卡）。2规范性引用文件下列文件对丁本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本文件。GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T2829周期检测计数抽样程序及表（适用于对生产过程稳定性的检查）GB/T4208一2008外壳防护等级（IP代码）GB/T13384机电产品包装通用技术条件GB/T25480仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1分辨力resolution也称量化步距。指在数显表（卡）与光栅测量系统联通后，能引起数显表（卡）显示数字变化的指示光栅相对于主光栅的最小位移量。3.2细分数 subdivision factor利用光学和电子学的方法将光栅信号的一个周期分割的等分数，其数值等丁光栅栅距与分辨力的商。3.3响应速度response speed数显表（卡）能正常显示数值时，光栅读数头相对于光栅尺或光栅盘（环）的最大移动速度。4分类及基本参数数显表（卡）的分类和基本参