JBT 8444-1996粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件.pdf

JB/T8444—1996电触头是开关电器中用以接通和断开电路的重要元件，它的质量好坏直接影响开关电器应用的可靠性，银金属氧化物是开关电器中应用较多的电触头材料，用粉末冶金工艺生产的银金属氧化物电触头在我国生产和应用已有数十年的历史，但一直缺乏一个完善的技术标准，为提供触头生产和开关电器应用单位一个统一的技术依据，经参考国外有关触头标准及厂商产品规范，结合我国各厂生产的产品通过技术性能验证，编制了本标准。本标准包含适用范围、引用标准、技术要求，抽样、试验方法、标志、包装和保管、本标准附录A附录B都是标准的附录。·本标准由机械工业部桂林电器科学研究所提出和归口本标准由机械工业部桂林电器科学研究所负责起草本标准主要起草人梁秉钧 中华人民共和国机械行业标准JB/T8444-1996粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件1范围本标准规定了粉末冶金法银氧化镐、银氧化锌、银氧化铜、银氧化锡等银金属氧化物电触头（以下筒称电触头）的技术要求，抽样试验方法、标志、包装与保管等内容。典本标准适用于低压开关电器用的以粉末冶金基本工艺生产的银金属氧化物电触头元件。2引用标准下列标准包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文，在标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB2828-87逐批检查计数抽样程序及抽样表GB5586-85电触头材料基本性能试验方法GB5587-85银基电触头基本形状、尺寸、符号及标注JB4107.3-85电触头材料化学分析方法3技术要求3.1电触头应符合表1所列化学成分、物理与机械性能要求。3.2电触头尺寸及公差应符合GB5587或用户提出的图样要求。3.3电触头外观质量其表面应无裂纹、分层、气泡和明显的掉边、缺角、凹陷及腐蚀斑点，表面粗糙度应符合GB5587要求，产品毛刺高度小于0.15mm。3.4电触头的金相组织其氧化物颗粒在银基体中应分布均匀，如附录A中图A1，不均匀组织如图A2。3.5电触头的金相组织缺陷检查，应观测每一个样品的断面磨光面，不应有长度大于或等于150um氧化物的聚集物或其它夹杂物及55μm气孔，如附录A中图A3、图A4、图A5。3.6金相组织中聚集物或夹杂物长度小于150um而大于或等于100um，气孔长度小于55um而大于或等于35um时，在每4mm观察面上不允许超过五处。3.7产品如有银焊层应有明显标记。4抽样4.1电触头的质量检查采取逐批检验，每批产品应为同一批配料和相同加工工艺。4.2每批产品质量检查按如下要求进行抽样：4.2.1外观检查每批100%。4.2.2尺寸检查按GB2828要求，以二次正常检查抽样方案，二级一般检查水平进行抽样（见附录B表B1。电触头表面粗糙度按GB5587进行抽样检查。4.2.3密度、硬度检查按GB2828的二次正常抽样方案，S一3特殊检查水平进行抽样（见附录B表B1）。4.2.4化学成分、电阻率及金相组织检查按GB2828的二次正常抽样方案，S一1特殊检查水平进行抽样（见附录B表B1）。机械工业部1996-09-03批准1997-01-01实施96 JB/T8444—1996表1粉末冶金工艺生产的各种金属氧化物电触头化学成分和物理与机械性能化学成分(wt. %)导电度电阻率密度硬度MPa（或MN/m触头产品名称合金代表符号添加物杂质IACS(20℃)Caog/cm布氏（HB）≥AgZnOCuo维氏（HV）SnO,总量总量%A.软态硬态软态硬银氧化镉（8)（P·M）AgCdO(8)(P·M)余量8.0±1.00.59.90822.10500630530银氧化镉（8)-T（P·M）AgCdO(8)-T(P·M)余量8.0±1.01.50.59.90662氧化镉（10)(P·M）580AgCdO(10)(P·M)余量10.0±1.09.580722.4055065058067银氧化镉（10)-T(P·M）AgCdO(10)-T(P·M)余量10.0±1.01.55958067061069银氧化镉（12)(P·M）AgCdO(12)(P·M)余量12.0±1.0662.60570670600680银氧化（12)-T(P·M)AgCdO(12)-T(P·M)余量12.0±1.01.50.5.70563.10600630710银氧化镉（15)(P·M）AgCdO(15)(P·M)余量15.0±1.09.60622.80620700650720银氧化镉（15)-T(P·M）AgCdO(15)-T(P·M)余量15.0±1.03.30650720680730银氧化锌（8)(P·M）AgZnO(8)(P·M)余量8.0±1.02.606b600700630726银氧化锌（8)-T(P·M）Ag