JBT 8951.2-1999绝缘栅双极型晶体管模块 臂和臂对.pdf

JB/T 8951.2-1999前 言绝缘栅双极型晶体管模块的主要结构形式是臂和臂对，是国内外目前使用最广泛的电力半导体模块之一，特别是快速型系列IGBT 臂和臂对模块，近年来在我国科研、生产、应用和测试等方面得到很快发展，应用更为广泛。本标准主要规定了工作频率为10~40kHz的快速型IGBT臂和臂对模块产品的技术条件，其技术内容主要参照了IEC有关文件并结合国内产品水平、应用实际要求，并参考了工业发达国家相关标准，编写及表述方法符合GB/T1.1—1993的规定。本标准首次发布。本标准的附录 A、附录 B、附录 C、附录 D 是标准的附录。本标准由西安电力电子技术研究所提出并归口。本标准主要起草单位：电子部777厂、西安爱帕克电力电子有限公司、华晶中央研究所。本标准主要起草人：苗宏、王成武、王晓宝、刘利锋。,100 JB/T 8951.1 --1999附录D（标准的附录）热循环负载试验方法D1 目的在规定的条件下，通过对器件反复开通加热和强迫冷却，验证器件承受结温波动的能力。D2原理电路图 D1D3电路说明和要求G：可调电流源；R：负载及电流测量电阻器；CTR：栅极控制单元。D4 试验程序把器件安装在能强追冷却的系统上，然后通过电流等于其额定值的功率，使其壳温达到规定值然后关断功率，强迫降温使器件壳温迅速降到规定值，此为一个循环。整个试验完成规定的循环次数后，测量有关的电特性，应符合表6。D5规定条件a）每个循环的最高壳温和最低壳温；b）每个循环中壳温从最高点降到最低点所需的最长时间；c）每个循环中壳温从最低点升到最高点所需的最长时间；d）试验重复次数为5000或10000次。99 JB/T 8951.2 - 1999C组检验按表10规定，正常生产定型的产品，每年至少应作一次B组检验。表10抽样方案判据检验方法分组检验项目全部尺寸符合要求9按 3.3尺寸C1Vce=0 V. Vcc=30 VGB/T 17007--1997 中 3.7Cictf=1 MHZ11GB/T 17007--1997 中 3.8CrsC2a符合表2、3，6，7GB/T 17007--1997 中 3.9CrsVGE-15 V、R,由制造厂给出GB/T 17007—1997 中 3.5td(on)v t.Vcc=0.8 VcEs、I,为 100℃壳GB/T 17007—1997 中 3.6温时的值符合表2,3,6,7t (ofr)- tr符合表2、3、6，7.9JB 5836--1991 中附录 C 的 C6并联二极管 i、trGB/T 17007—1997 中 4.2符合表2．3，6．78RialC2dJB/T 7624--1994 中 3.3Ric2试后测量：GB/T 4937--1995 的 Ⅱ1.2.2(Tb).VcE ( st) ≤1.1 USL耐焊接热（仅适用焊焊接温度260±5℃、浸润时间IN≤ 1.1 USLC4接端子）10±1s、恢复时间≥1 hIces ≤2 USL试后测量：GB/T 2423.4--1993 试验 DbVeE ( sat) 1.1 USL方式2.1000 h、85℃、相对湿度Ices ≤2 USL稳态湿热C785%、Vc:=100 VIGEs ≤2 USL试后测量：附录 C、Tjm6VcE (sat) ≤1.1 USLIGBT的集电极一发射C870% Vces. 1000 hIcEs ≤ 2 USL极偏压电耐久试后测量：附录 C. TjmIces ≤2 USL6.IGBT 的栅极偏压电耐IGEs ≤2 USLVgs= ± 20 V. 1000 h久放行批证明记录试验结论CRRL注：如C组初次提交检验不合格，可按附录A中A2条追加抽样再进行-次检验，但每一检验分组只能追加一次.且追加的样品应经受该分组的全部检验。5.4鉴定批准试验（D组）D组检验按表 11 规定。表 11抽样方案判据检验方法分组检验项目试后测量：附录 CVch (sat) ≤ 1.1 USL高温：70℃6热循环负载Ices ≤2 USL低温：35℃D2(D)IGEs ≤2 USL循环5000次109 JB/T 8951.2 --1999标志和订货资料66.1产品上的标志a）产品号及质量类别（I类）；b）制造厂名称、代号或商标；c）电路联结图及其端子符号；d）检验批识别代码。6.2包装盒（箱）上的标志a）产品名称、型号及质量类别；b）制造名称、代号或商标；c）检验批识别代码；d）防潮、防雨标志。6.3订货资料订购一种具体产品至少需要以下资料：a)）产品型号及质量类别；b）本标准的标准号；c) 其它。110 JBT 8951.2 -- 1999附录A（标准的附录）抽样方案A1AQL抽样方案表A1批量范围AQL（IL IⅡI)样品量0.40N