一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统[发明专利].pdfVIP

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  • 2023-08-03 发布于湖北
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一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统[发明专利].pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号CN 104881508 A (10)申请公布号 (43)申请公布日2015.09.02 (43)申请公布日 (21)申请号 201410708276.5 (22)申请日 2014.11.27 (71)申请人 苏州能讯高能半导体有限公司 地址 215300 江苏省苏州市昆山市高新区晨 丰路18号 (72)发明人 张乃千 裴轶 (74)专利代理机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 路凯 杨生平 (51)Int.Cl. G06F 17/50 (2006.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图2页 (54)发明名称 一种基于查表法的半导体器件的建模方法和 系统 (57)摘要 本发明公开了一种基于查表法的半导体器件 的建模方法和系统,该方法包括:根据至少一个 半导体单胞器件的本征数据,获取由至少一个所 述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真 数据;获取所述半导体器件的寄生仿真数据;根 据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数 据,建立所述半导体器件的查表模型。本发明提供 的一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系 统,能够减少仿真运算的数据量、缩短仿真运算的 时间和降低仿真中器件布局的复杂度。 A 8 0 5 1 8 8 4 0 1 N C CN 104881508 A 权 利 要 求 书 1/2页 1.一种基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,包括: 根据至少一个半导体单胞器件的本征数据,获取由至少一个所述半导体单胞器件组成 的半导体器件的本征仿真数据; 获取所述半导体器件的寄生仿真数据; 根据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数据,建立所述半导体器件的查表模 型。 2.根据权利要求 1 所述的基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,所述半 导体单胞器件为增强型的双极结型晶体管、场效应晶体管或双极型晶体管;或者 所述半导体单胞器件为耗尽型的双极结型晶体管、场效应晶体管或双极型晶体管。 3.根据权利要求 1 所述的基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,所述根 据至少一个半导体单胞器件的本征数据,获取由至少一个所述半导体单胞器件组成的半导 体器件的本征仿真数据,包括: 对所述半导体单胞器件进行不同测试条件下的测试,以得到相应测试条件下的测试数 据; 去除所述测试数据中的寄生参量,得到所述半导体单胞器件的本征数据; 根据所述半导体单胞器件的本征数据,建立所述半导体单胞器件的本征部分的查表模 型; 组合至少一个所述半导体单胞器件,仿真以获取到由至少一个所述半导体单胞器件组 成的半导体器件的本征仿真数据。 4.根据权利要求 3 所述的基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,根据所 述半导体单胞器件的本征数据,建立所述半导体单胞器件的本征部分的查表模型具体执行 过程为: 根据所述半导体单胞器件在不同环境温度的本征数据,建立所述半导体单胞器件不同 温度的查表模型。 5.根据权利要求 1 所述的基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,所述在 获取所述半导体器件的寄生仿真数据之前,还包括: 根据所述半导体器件的加工工艺和设计版图,仿真所述半导体器件的寄生结构。 6.根据权利要求 4 所述的基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,建立所 述半

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