SJT 10195-1991中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件.pdf

L 85SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10195 --91中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件和测试方法1991-12-01实施1991-05-28发布中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10195 - 91中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件1主题内容与适用范围本标准规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪（以下简称IC测试仪）的技术要求、试验方法及检验规则等。本标准适用于采用加压测流法和加流测压法测试数字IC静态参数的测试仪器，是IC测试仪产品设计、生产、使用及制定IC测试仪产品标准的共同技术依据。2引用标准GB 191包装储运图示标志GB 1002单相插头、插座型式基本参数与尺寸GB 4793电子测量仪器安全要求GB 6587.1电子测量仪器环境试验总纲GB 6587.2电子测量仪器温度试验GB 6587.3电子测量仪器湿度试验GB 6587.4电子测量仪器振动试验GB 6587.5电子测量仪器冲击试验GB 6587.6电子测量仪器运输试验GB 6587.7电子测量仪器基本安全试验GB 6587.8电子测量仪器电源频率与电压试验GB 6592电子测量仪器误差的一般规定GB 6593电子测量仪器质量检验规则GB 6833电子测量仪器电磁兼容性试验规范GB 9813微型数字电子计算机通用技术条件GB 11463电子测量仪器可靠性试验方法GB/T13166电子测量仪器设计余量与模拟误用试验GB11465电子测量仪器热分布图SJ/T 10196中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法。SJ 946电子测量仪器电气、机械结构基本要求SJ 2259电子测量仪器随机技术文件的编制中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991-12-01实施1 SJ/T 10195—913术语3.1静态参数staicparameter静态参数即IC的直流参数。如功耗电流Icc、输入电流II、输出高电平VoH、输出低电平VoL等。3.2驱动电平drivinglevel驱动电平指施加到被测IC非测试管脚的测试条件电平（高电平或低电平）。3.3加压测流voltageforce/currentmeasure(VFIM)加压测流是IC静态电流参数的一种测试方法，它是对IC被测管脚施加规定的电压，同时测试该管脚的电流。如功耗电流Ic的测试就是采用加压测流法。3.4加流测压current force/voltagemeasure(IFVM)加流测压是IC静态电压参数的一种测试方法，它是对IC被测管脚施加规定的电流，同时测试该管脚的电压。如输出高、低电平VoH、VoL的测试就是采用加流测压法。3.5加压源voitage force source加压测流法中产生施加电压的电压源。3.6加流源current force source加流测压法中产生施加电流的电流源。3.7IC电源ICPowersupplyIC电源指IC测试仪中提供给被测IC器件的Vcc、VDD、VeE电源。4产品分类按测试IC类型分类4. 1TTL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪；a.ECL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪；b.MOS中、小规模数字集成电路静态参数测试仪；c.d．HTL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪；e.中、小规模数字集成电路静态参数测试仪（即测试IC类型多于一种的IC测试仪）。4.2其它方法分类如按其它方法分类应在产品标准中规定。5技术要求5.1测试对象5.1.1IC测试仪可测IC的类型如TTL、ECL、MOS、HTL等应在产品标准中规定。5.1.2IC测试仪可测IC的封装形式应在产品标准中规定。5.1.3IC测试仪最大可测管脚数应在产品标准中规定。5.2测试参数IC测试仪可测参数应在产品标准中规定。5.3主控制器IC测试仪若使用计算机作为主控制器、则应在产品标准中规定：a.计算机类型； 2 SJ/T 10195—91b，使用软件：操作系统、应用软件、测试语言；c．存储器容量；d．配置的接口种类、名称。5.4电压表指标5.4.1电压测量范围、电压量程、分辨力及误差应在产品标准中规定。5.4.2各量程误差应按公式（1)表示：AyM =± (a%RD+b%F·S).(1)式中;RD——电压表的读数值;F·S-电压表量程的满度值；a误差的相对项系数;6误差的固定项系数。5.5电流表指标5.5.1电流测量范围、电流量程、分辨力及误差应在产品标准中规定。5.5.2各量程误差应按公式(2)表示：AM=±(a%RD+b6%F.S)·(2)式中：RD电流表的读数值；F·S-电流表量程的满度值；a—误差的相对项系数;6--误差的固定项系数。5.6加压源5.6.1额定电压范围、电压分档、分辨力、误差、最大