SJ_T 10805-2018半导体集成电路 电压比较器测试方法.pdf

ICS 31.200L 55SJ备案号：中华人民共和国电子行业标准SJ/T10805—2018代替SJ/T10805—2000半导体集成电路电压比较器测试方法Semiconductor integrated circuits Measuring methods for voltage comparators2018-02-09发布2018-04-01实施发布中华人民共和国工业和信息化部 酒 SJ/T10805-—2018目次III前言1.范围2规范性引用文件，3符号一般要求，4ANDINFORMSTRY.5详细要求，ATION输入失调电压5.1盒度系5.2输入失调电压文avIo5.3输入失调流0电流温度5.4输入失TECHNOLOG置电流5.5输入偏置中流5.6输入温度系功毛5.7静态电压增5.8开环AvD...抑制比5.9共模KCMR12最模翰人电压5.1015电源J比KsT155.11电压最大电压5.125.13输出高电中17Vob输出低185.14店5.15高电平输19电流Io..5.16低电平输出电9流of205.17开环差模输入电5.18开环单端输出电阻Re215.19控制端阈值电压Vr..22225.20控制端电流Ic5.21输出漏电流lieak23...245.22输出吸入电流Isinl255.23响应时间t、t、td+、td-、At5.24.26锁存延迟时间ta(L)附录A（规范性附录）电参数符号28T SJ/T108052018前言本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准代替SJ/T10805—2000《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》。本标准与SJ/T10805—2000相比主要变化如下：a）“一般要求”中增加了“测试期间，被测器件输入和输出应处于确定状态”的要求（见第4章）；b）“详细要求”中按照GB/T4728的要求重新对测试原理图的图形符号进行了编制（见第5章）；c）增加“控制端阈值电压”、“控制端电流”、“输出漏电流”、“输出吸入电流”、“锁存延迟时间”的测试方法（见5.195.22、5.24）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。本标准起草单位：中国电了技术标准化研究院、中国电了科技集团公司第二十四研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所。本标准主要起草人：李锟、钟英峻、闫永超。本标准所代替的历次版本发布情况为：SJ/T10805—2000。II SJ/T10805—2018半导体集成电路电压比较器测试方法1范围本标准规定了半导体集成电路电压比较器（以下简称器件）电特性测试方法。2规范性引用文件自期文件仅注日期的版本适用于本文件。下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注包括所有的修凡是不注日期的引用文件-19%6体集成电路文字号TION电参数文字符品SJ/T10734—INDUS3符号TECHNO定的电数符于本文件附录A规HO4一般要求Y店珠明合器件箱文件的规完若无特测试期间环境或参考大4. 1福测起的测试误应特合器件相关文件的4.2测试期间应避免外界S规定。被测器件的电源的内阻在信号频率下应接近为零；电源电压的偏差应在规定值的4.3测试期间中Y送的其他电参量的精度应符合器件相关文件的规定1%以内。施于波测L4.4交流小信号测试网在线性工作区进行。4.5被测器件与测试系统连按或断开时，不应超过器件的使用极限条应按器件相关文件规定的顺序接通电源4.6若有要求时，功电路和补偿网4.7测试期间，被测器件应连接相件规定的辅04.8测试期间，被测器件应避免出现自激现1D4.9测试期间，被测器件输入和输出应处手确4.10采用辅助放大器（AUX）与被测器件构成闭合环路的方法测试时，基本测试原理如图1所示。应避免因静电放电而引起器件损伤。4.11注：若电特性值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。1 SJ/T10805—2018DUTAUXK图1测试原理图4.12测试系统图1中AUX应满足下列要求：a）开环增益大于60dB;输入失调电流和输入偏置电流应远小于流过R和R2的电流；b)c）输出动态范围不影响AUX输出端电压Vo的测量范围和准确度；d）Rr/R值应保证AUX在线性区工作，其精度决定了测试的精度。图1中环路元件应满足下列要求：a） Rr· Ib≤Vio;b)R≤RD;c)R · Ib≥Vio;d) Ros≤Rr≤RiD;e)Ri≥RL;f)电阻准确度应在±5%以内。其中：g)被测器件的输入偏置电流；IrB被测器件的输入失调电压；Vro被测器件的开环差模输入电阻；RD-AUX的开环单端输出电阻：Ros输入电阻；R1采样电阻；R