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DDS信号源在扫频测试中的应用 电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试，这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特性、相位特性和时延特性等，而最常见的就是DUT 的幅频特性。 最初，对于 DUT 的幅频特性的测试是在固定频率点上逐点进行。这种测试方法繁琐、费时，且不直观，有时还会得出片面的结果。例如，测量点之间的谐振现象和网络特性的突变点常常被漏掉。 DDS(Direct Digital Synthesis)技术是1971 年3 月由美国学者J.Tierncy, C.M.Rader 和B.Gold提出，这是一种从相位概念出发直接合成所需要波形的全数字频率合成技术，原理框图如下： DDS 技术的出现使得我们对于幅频特性的测试变得异常简单。我们只需要按照某种规律不断的配置“频率码K”，就能够得到一个频率随时间按照此规律在一定频率范围内扫动的信号，如此即可对DUT 进行快速、定性或定量的动态测试。因此，对DUT 的调整、校准及故障排除提供了极大的便利。 北京普源精电(RIGOL)最新推出的DG5000 系列函数/任意波形发生器采用了DDS 直接数字合成技术，可生成稳定、精确、纯净和低失真的输出信号。本文仅以DG5000 为例来详细说明DDS信号源在扫频测试中的具体应用。 1. DG5000 提供1uHz～250MHz 的扫频范围；2. 扫频类型支持“线性扫频”、“