芯片测试题解.pdfVIP

芯⽚测试题解 问题描述 　　有n（2≤n≤20）块芯⽚，有好有坏，已知好芯⽚⽐坏芯⽚多。 　　每个芯⽚都能⽤来测试其他芯⽚。⽤好芯⽚测试其他芯⽚时，能正确给出被测试芯⽚是好还是坏。⽽⽤坏芯⽚测试其他芯⽚时，会随机 给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯⽚实际的好坏⽆关）。 　　给出所有芯⽚的测试结果，问哪些芯⽚是好芯⽚。 输⼊格式 　　输⼊数据第⼀⾏为⼀个整数n，表⽰芯⽚个数。 　　第⼆⾏到第n+1⾏为n*n的⼀张表，每⾏n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n⾏中的第i⾏第j列（1≤i, j≤n）的数据表⽰⽤第i块 芯⽚测试第j块芯⽚时得到的测试结果，1表⽰好，0表⽰坏，i=j时⼀律为1（并不表⽰该芯⽚对本⾝的测试结果。芯⽚不能对本⾝进⾏测 试）。 输出格式 　　按从⼩到⼤的顺序输出所有好芯⽚的编号 样例输⼊ 3 1 0 1 0 1 0 1 0 1 样例输出 1 3 思路分析： 读完题⼤致知道题的⼀些条件； 1：已知好芯⽚⽐坏芯⽚多，也就是好芯⽚数坏芯⽚数，好芯⽚最少也是n/2+1； 2：如果⼀个芯⽚获得的测试评价中，好多于坏，那么这个芯⽚是好的，反之亦然 3：好芯⽚测试芯⽚是好就好，是坏就坏； 4：坏芯⽚测试其他碎⽚是随机结果；可能正确也可能说反；