芯片测试—动态规划算法.pdfVIP

芯⽚测试—动态规划算法 n 有 ⽚芯⽚，已知好芯⽚⽐坏芯⽚⾄少多1⽚。现在需要通过测试从中找出1⽚好芯⽚，测试⽅法如下：将2⽚芯⽚放到测试台上，2⽚芯⽚ 互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯⽚的报告是正确的，⽽坏芯⽚的报告是不可靠的。请在上述背景下解决下述问题， 根据好芯⽚⾄少⽐坏芯⽚多⼀⽚的条件，可以得出，在芯⽚数量⼤于3⽚的时候，通过将芯⽚互检的结果为⼀好⼀坏或者两个坏（其中必有 ⾄少⼀个坏芯⽚）那组芯⽚丢弃，只留下检测结果为两个好的芯⽚并随机丢弃⼀⽚，并根据芯⽚数量的奇偶性，将奇数的芯⽚剩余的⼀⽚未 匹配的芯⽚与前⾯匹配完成并实现丢弃的芯⽚进⾏逐⼀匹配，以此实现缩⼩芯⽚数量并确保好芯⽚⾄少⽐坏芯⽚数量多⼀⽚的条件。当芯⽚ 数量只剩三⽚的时候，根据其条件只有两好⼀坏或者三个好的情况，做简单判断即可找出⼀⽚好芯⽚。//注释的为原先未优化的算法 import java.util.Scanner; class Chip{//芯⽚类 boolean quality;//标注好坏 int position;//保存芯⽚初始化位置 public Chip(boolean quality,int posi