第七章第四节 无损探伤.pptVIP

第七章第四节 无损探伤 * * 第一页，共二十页，2022年，8月28日 无损探伤的方法 对缺陷的检测手段有破坏性试验和无损探伤。由于无损探伤以不损坏被检验对象为前提，所以得到广泛应用。 无损检测的方法有磁粉检测法、电涡流法、荧光染色渗透法、放射线（x光、中子）照相检测法、超声波探伤法等。 * * 第二页，共二十页，2022年，8月28日 磁粉检测法 磁悬液 磁粉检测仪 将磁悬液喷洒在工件表面，将磁粉检测头夹持在被测工件上，通以数百安培的电流，工件中将产生磁场，工件表面的裂纹可因磁粉的不均匀分布而显示出来。 * * 第三页，共二十页，2022年，8月28日 X光探伤 将x光发生器对准被测位置，将感光片贴在物体背面，人离开后通上高压电，再将感光片冲洗出影像，即可观察到缺陷。 * * 第四页，共二十页，2022年，8月28日 计算机断层成像技术(CT)探伤（参考中国工程物理研究院应用电子学研究所资料） 计算机断层成像技术 (CT) 是一种重要的 无 损 检 测 技 术 (NDT) ，是物理学与计算机科学的发展产物。它是基于射线与物质的相互作用原理，通过投影重建方法获取被检测物体的数字图像，全面解决了传统 x射线摄影装置的影像重叠、密度分辨率低等缺点。 * * 第五页，共二十页，2022年，8月28