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本发明揭示了一种半导体结构及制造方法,包括:S1、提供基板;S2、在所述基板的表面安装双排铜柱以及工作元件,所述双排铜柱顶端由连接件结合;S3、进行封装,形成封装层,所述封装层覆盖所述基板、所述双排铜柱以及所述工作元件;S4、减薄所述封装层以及所述连接件,暴露出所述双排铜柱。通过将铜柱改换为双排铜柱,增加了注塑时的阻力,使得双排铜柱有更大的的支撑力,不容易在注塑时因受到太大的阻力而倾斜或倾倒,提高半导体结构的生产质量。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116705623 A
(43)申请公布日 2023.09.05
(21)申请号 202310800168.X
(22)申请日 2023.07.03
(71)申请人 无锡摩尔精英微电子技术有限公司
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