基于相邻对称双电流源激励的电阻层析成像测量研究的中期报告.docxVIP

基于相邻对称双电流源激励的电阻层析成像测量研究的中期报告 本研究基于相邻对称双电流源激励的电阻层析成像（EIT）技术，旨在实现对物体内部电阻分布的精确成像测量。本报告为中期报告，主要介绍了研究进展和初步实验结果。 一、研究进展 1. 系统建设：根据EIT原理，设计了相邻对称双电流源激励系统，并进行了建设和测试。 2. 数据采集：通过搭建数据采集系统，实现对EIT成像数据的采集和处理。同时，为了保证数据质量，进行了噪声抑制和信号滤波处理。 3. 成像算法优化：结合EIT成像算法，对成像问题特征进行分析，对成像算法进行了优化和改进，提高了成像的空间分辨率和图像质量。 二、初步实验结果 1. 测量目标：采用仿真模型作为测量目标，模拟了物体内部不同形状和位置的电阻分布。 2. 实验测量：通过系统建设和数据采集，实现了对测量目标的EIT成像测量。根据实验数据进行算法处理，得到了电阻层析成像结果。 3. 成像结果验证：将实验测量结果与仿真模型进行比较，验证了EIT成像算法的有效性和准确性。同时，通过对成像结果的分析，得到了测量目标的电阻分布和空间分布情况。 三、下一步工作 1. 系统完善：进一步完善相邻对称双电流源激励系统，优化数据采集和处理流程，并进行系统测试和验证。 2. 成像算法改进：根据实验结果，改进成像算法，提高成像精度和分辨率。 3. 应用拓展：将EIT技术应用于其他领域，如医学影像、工业控制等，探索EIT技术在应用中的潜力和发展方向。