x射线应力测定的几种方法.docxVIP

x射线应力测定的几种方法 1 初步控制应力的状态 如果执行x辐射强度测量任务，必须从哪个方面准备并考虑的是正确选择测试方法和工作流。 首先应熟知X射线应力测定原理。为此必须事先了解X射线的本质, 具备必要的晶体学知识, 懂得X射线衍射原理。 其次, 应当尽可能详尽地了解被测对象。知道了它的化学成分、组织结构和其中一些主要相的晶体学参数, 才能够确定测量材料中哪个相的应力, 进而选择衍射晶面、辐射和滤波片, 查找或计算应力常数。知道了它的工艺历程和最后状态, 特别表面状态, 再进一步判断它是否存在织构, 晶粒是否粗大, 或者晶粒是否碎化 (嵌镶块化) , 才能确定测量方法和条件。 第三, 在实际工作中常常会遇到试验的委托者并不了解X射线法测定的是指定点指定方向应力的这一特点, 只是笼统地要求测定工件的应力。在这种情况下, 应根据上述已知的信息, 再加上工件的形状、尺寸等因素, 分析残余应力产生的各种可能的原因, 初步判断工件各个部位应当是什么应力状态, 这种应力状态对工件的使用性能或工艺性能有何影响, 做到心中有数。在此基础上才能够确定测试部位、测点分布、应力方向以及测试点的大小等。还要依据试样的现有状态和测试目的, 正确进行测试点的表面处理, 并考虑是否需要和允许进行剥层, 测定应力沿层深的分布。只有这样, 最后提供的测试结果才是可信的和有价值的。 2 测量量法 2.1 晶面法线