低温变流磁化率的测量装置及其在关联电子材料中的应用的中期报告.docxVIP

低温变流磁化率的测量装置及其在关联电子材料中的应用的中期报告 本中期报告介绍了一个用于测量低温下变流磁化率的装置，并讨论了该装置在研究关联电子材料中的应用。 该装置主要由以下部分组成：超导磁体、样品室、温度控制系统、数据采集系统和控制系统。超导磁体通过电流通入产生磁场，样品放置在样品室中，使用温度控制系统控制样品的温度，数据采集系统记录样品室中的磁场和温度的变化，控制系统则控制整个实验的进行。 我们使用该装置对一些关联电子材料进行了研究，结果表明，在低温下这些材料的变流磁化率随温度的变化呈现出不同的形态。以某一材料为例，我们观察到，当温度降低时，变流磁化率开始呈现出“开口虫”的形状，随着温度的继续降低，变流磁化率逐渐趋向于饱和。该结果与该材料的铁磁转变点相符合，反映出该材料的铁磁相转变对其低温下的物理性质具有重要影响。 总的来说，该测量装置可为关联电子材料研究提供一种精确且可靠的手段，并可通过对变流磁化率的测量来研究这些材料在低温下的物理性质，有望为这些材料的应用开发提供有益的指导。