实验十一 压电陶瓷介电性能测定-2015-4-13日修改.docVIP

实验十一 压电陶瓷介电性能测定-2015-4-13日修改.doc

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电子科学与技术专业实验指导书 PAGE PAGE 108 实验十一 压电陶瓷介电性能测定 实验名称:压电陶瓷介电性能测定 实验项目性质:普通实验 所涉及课程:电子材料 计划学时:2学时 一 、实验目的 通过实验了解电介质介电常数与介质损耗角正切tgδ 的概念和物理意义; 熟悉用LCR型电桥测量电容器的电容量及介质损耗角正切的方法; 通过实验了解不同类型的介质材料其tgδ随频率的变化特性。 二、实验内容 1. 实验老师介绍使用TH2810B系列LCR型电桥; 2. 测试压电陶瓷的介电常数。 三、实验(设计)仪器设备和材料清单 TH2810B系列LCR型电桥、压电陶瓷晶片、千分尺等。 四、实验原理 根据电介质理论,各种电介质在电场作用下都要发生极化过程,其宏观表现可以用电介质的介电系数来表征。不同类型的介质材料,由于发生极化的微观机制不同,不仅数值有明显差别,而且与频率的关系也有很大不同。同样地,由于产生介质损耗的来源不同,各类电介质的tgδ数值及其与频率的关系都表现出各不相同的特点。 实验时,选用要测定的电介质制成电容器作为测量样品,利用LCR电桥直接测定电容量和损耗角正切值的大小以及与频率的关系,研究介质的极化特性。在已知样品直径(d)和电介质厚度(t)的条件下,由公式 --C-电容(F),t样品厚度(m),d-样品直径(m),ε0-真空介电常数8.85×10-12(F/m)。就能计算出相应的介电系数 。 测试不同频率下电介质的介电系数和损耗角正切tgδ,常用电桥法,其工作原理如图11-1所示。将试样等效成电容CX和电阻RX并联,调节R4和CN,使电桥平衡,根据平衡条件可求得: 改变测试频率,可获得不同频率下的介电系数和损耗角正切。其中CN、R3为已知标准平衡元件。 图11-1 电桥法测试原理 五、实验步骤 利用TH2810B系列LCR型电桥测试。 用游标卡尺测量样品的厚度t和直径d。 开启LCR测试仪的电源,预热10min。 选择所需的测量参数:C/D。 选择测试信号电平:0.3V。 连接测试夹具,把仪器提供的镀金短路板接于测试夹具, 对仪器执行短路清“0” 方法: a. 按 “ ?” “?” 键到“清零”功能项; b. 按“?” “?”键选择“短路”参数,此时仪器显示“CLEAr”和“SH”, 表示若按“启动”键仪器将进行短路清零; c. 使用短路片将测试端可靠短路; d. 按“启动”键仪器进行短路清零,其后“清零”参数转至“开路”,且功能项自动转至“参数”,退回测试状态 6. 去掉短路板,对仪器执行开路清“0” 方法: a. 按 “ ?” “?” 键到“清零”功能项; b. 按“?” “?”键选择“开路”参数,此时仪器显示“CLEAr”和“OP”, 表示若按“启动”键仪器将进行开路清零; c. 将仪器测试端可靠开路; d. 按“启动”键仪器进行开路清零,其后功能项自动转至“参数”,退回测试态; 7. 连接测试电缆(注意:红线接“HD,HS”,黑线接“LS,LD” ); 8. 将待测陶瓷片连接于测试端,改变测试频率,由低到高(100Hz、120Hz、10KHz、1 KHz),分别记录下电容量(显示器A)和损耗角正切值(显示器B)。 六、实验报告要求 1. 实验目的; 2. 实验内容; 3. 实验设备(仪器),材料; 4. 实验原理; 5. 实验步骤; 6. 实验数据测试与记录; 7. 实验结果与分析(绘出被测电容器的电容量、介电系数及tgδ的频率特性,并对所得曲线进行理论分析)。 七、考核型式 书面实验报告及实际操作相结合。 思考题 1. 在测量固体电介质的相对介电常数的过程中,能否移动或接触测量导线?为什么? 注意事项: 1. 压电陶瓷片易碎,测试时要小心。 2. 改变测试频率后,应该重新进行清零。 附:11-1 频率特性实验数据记录表 11-1 频率特性实验数据记录表 电介质厚度 电介质直径 测试频率 电容量 损耗角正切 介电系数

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