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原子与平板间的Casimir--Polder力的基础研究的中期报告 该项目旨在研究原子与平板之间的Casimir-Polder力，并探讨其在实际应用中的潜在价值。 在前期研究中，我们首先对Casimir-Polder力的理论基础进行了深入研究，并对其在实验中的测量方法进行了概述。同时，我们还对相关文献和已有的实验数据进行了归纳整理，为后续的研究工作提供了基础。 接下来，我们针对Casimir-Polder力对微纳尺度对象之间的相互作用的影响进行了深入探究，并研究了其在微电子学中的应用。我们发现Casimir-Polder力可以被用于微芯片和MEMS器件的制造过程，从而实现更高精度的微纳尺度控制。 此外，我们还研究了Casimir-Polder力在纳米水平下对介电体和金属材料的光学性质的影响。通过计算和模拟，我们发现Casimir-Polder力不仅可以影响介电体和金属材料的折射率，还可以对其吸收和发射光的性质产生影响。这些发现为其在电子器件和光学元件制造领域中的潜在应用提供了新的思路和方向。 未来的研究方向包括进一步探究Casimir-Polder力对微纳尺度和纳米材料性质的影响，以及结合实验验证和计算模拟方法，拓展其在实际应用中的潜在价值。