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本公开提供一种存储器电容稳定性的测试方法、装置及设备。该方法中，测试装置向待测试的存储器的所有电容中写入逻辑电平，从存储器的所有电容中读取出逻辑电平。重复写入至读取的步骤，获得多组写入存储器的电容中的逻辑电平和读取出的逻辑电平，并传输至计算机设备。计算机设备根据多组写入待测试存储器的电容中的逻辑电平和读取出的逻辑电平，确定每次测试存储器中的电容失效数量，最后根据多组电容失效数量的变化，确定存储器电容的稳定性。通过写入和读取的电平的对比，不需要等待过长时间，在电路测试阶段就可以实现对电容的测试，快
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116935941 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202210338451.0
(22)申请日 2022.04.01
(71)申请人 长鑫存储技术有限公司
地址 23
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