质谱新20120226ppt课件(最新整理版).pptxVIP

质 谱 • 质谱广泛用于有机分子结构测定。它可以 与各种分离技术联用，如气相色谱－质谱 联用(GC-MS)、液相色谱－质谱联用( LC-MS)等，成为复杂多组分化合物结构 定性与定量分析极有效的手段。 质 谱 • 质谱分析法是通过对样品的质量与强度的测定，进行成分 和结构分析的方法。质谱就是化合物分子经电子流冲击或 其它手段打掉电子，进行电离而转变成快速运动的离子， 在电场或磁场作用下，将其分离成按质量与电荷比值(简 称质荷比，以m/z表示，以前曾用m/e表示)大小排列而形 成的谱图。 • 质谱图中，每个质谱峰代表一种质荷比离子，它的强度表 示该种离子的多少。根据峰的位置，可进行定性分析；根 据峰的强度，可进行定量分析。 一、质谱谱图的产生与质谱仪 • 获得质谱的基本方法，是分子电离成不同质荷比的离子， 然后将其加速，引进磁场。在磁场内，离子偏转轨道与其 质荷比有关。质谱仪就是将化合物分子产生离子，并按其 质荷比分离，同时记录和显示它们相对强度的仪器。目前 有机结构分析的质谱仪，大多数只测量正离子。 • 典型的质谱仪一般由进样系统、离子源、分析器、接收器 和记录器组成。此外还包括真空系统与电气系统等辅助设 备。 2、离子源 • 质谱分析的对象是样品离子，因此首先要 把样品分子电离成离子。产生离子的装置 称离子源。虽然有各种电离方法，从而构 成相应的各种离子源，但在有机质谱中， 最常用的是电子电离法(简称EI)和化学电 离法(CI)。 (1)电子电离源：下图为电子电离源示意图。 灯丝一般为钨或铼丝。由它发射的电子，在正电位作用下，穿过电子 狭缝进入电离室，最后到达阳极。在大约1.333×10－4Pa压力下的电 离室内电子束与样品分子碰撞，使样品分子电离。产生的正离子受推 斥极与第一加速狭缝间一小静电场作用，穿过第一狭缝。一、二加速 狭缝间的强电场，将离子加速到最大速度后进入分析管。电子加速电 压在50~100V (一般为70V)之间，这一电压范围形成的离子流比较 稳定。能量为70eV的电子，使有机分子可能失去一个电子成为分子离 子，也可能使分子离子进一步发生键的断裂，形成碎片离子。当电子 能量一定时，一种有机分子各碎片离子的相对强度是一定的，这就构 成了质谱鉴定有机结构的基础。电子离子源虽然具有离子流稳定、离 子产率高等优点，但当有机化合物分子量太大或稳定性差时，往往得 不到分子离子，因而不能测定化合物的分子量。 (2)化学电离法(CI) • 化学电离源因化学电离过程发生的能量转移低得 多的场合，分子离子进一步碎裂大为减少，但其 最突出的离子并不是分子离子，而常常是增加或 减少一个氢原子所形成的所谓准分子离子，化学 电离的质谱就是以这样的方式提供有关分子量的 资料。 化学电离是在约133.3Pa的甲烷、异丁烷或氨这些特殊反应气压力下工作 的。在此压力下进行电离的电子，实际上全被反应气分子碰撞吸收，而 离子源内的样品分子几乎都不被电离，因其浓度极低，压力仅在 1.333×10-2~-4Pa(10-4~10-6mmHg)甚至更低。由反应气电离的离子与样品 分子碰撞，才使样品电离。以甲烷作反应气，它首先被电离成CH4+和 CH3+离子，这些离子再与甲烷分子作用，形成过剩内能较小的二次离子。 CH4++ CH4 CH5++ CH3. . CH + + CH C H ++ CH 二次离子与样品分子M碰撞，使样品分子电离，形成相当丰富的准分子离子： CH5+＋M MH+＋CH4 C2H5+＋M C2H5++ CH2. 3 4 2 5 2. 3、分析器 • 分析器(又称离子分离器)是将离子源产生的离子，按 m/z分开。各种质谱仪主要区别就在于质量分析器的不同。 工作原理为： • E=zV=1/2mv2 • M/z=H2r2//2V • H为磁场强度； • r为偏转半径； • v为加速电压。 • 4、 离子收集与记录系统 • 有两种方法记录离子，一种是照相法，另一种是 电子学方法。照相法是干板上的感光乳剂随同各 单一质荷比离子束的打击点而生成图像。照相法 的优点是灵敏度高，缺点是精度差。在电子系统 中，到达收集器的离子束，产生一股电流，强度 与该离子数目成正比。用静电计放大器或电子倍 增器，可以准确而灵敏地测量这股电流。 二、质谱技术有关的名词术语 . 1、 质量数与质量范围 • 在质谱中，化合物分子或原子，