高职电子信息大类集成电路开发及应用大赛赛项规程、评分标准及选手须知.docxVIP

高职电子信息大类集成电路开发及应用大赛赛项规程、评分标准及选手须知.docx

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2020年河北省职业院校技能大赛规程与评分标准-高职电子信息大类ADDIN CNKISM.UserStyle集成电路开发及应用大赛赛项规程、评分标准及选手须知 竞赛内容 1.赛项名称 赛项编号: 赛项名称:ADDIN CNKISM.UserStyle集成电路开发及应用 英语翻译:Development and Application of Integrated Circuits 赛项组别:高职组 赛项归属产业:电子信息 2.竞赛任务 本赛项主要考察高职电子信息大类专业学生对集成电路芯片程序编写、测试及应用能力。 集成电路测试 要求参赛选手在规定时间内使用集成电路综合检测平台对组委会提供的芯片及测试要求进行测试方案设计、测试工装制作及调试、上位机程序编写、芯片参数,功能测试及综合应用电路功能测试等任务,该部分竞赛任务选手以测试报告形式提交。 集成电路分拣 参赛选手在规定时间内根据提供的芯片完成芯片分拣任务。 集成电路应用 参赛选手完成芯片分拣后将部分或全部芯片装配至应用电路中,并编写相应的单片机程序,完成指定的功能。 职业素养 安全用电、规范操作、工具摆放、工位整洁、团队合作、符合职业岗位的要求和企业生产“6S”原则。 竞赛方式 1. 本赛项采取团体比赛形式。 2. 参赛队不得跨校组队,同一学校报名参赛队不超过2支; 3. 每个参赛队由3名选手(设场上队长1名)和1-2名指导教师组成。 4. 3名选手在竞赛现场按照竞赛任务要求,相互配合完成竞赛任务。 竞赛时量 竞赛时间:3.5小时,连续计时,中间不间断。 名次确定办法 本赛项奖项设置团体奖,具体如下: 以赛项实际参赛队总数为基数,按赛项成绩高低排序,一等奖占比10%,二等奖占比20%,三等奖占比30%,小数点后四舍五入。 五、评分标准与评分细则 1.评分标准及分值 表1 ADDIN CNKISM.UserStyle集成电路开发及应用赛项评分表 评分项目 评分细则 分值 评分方式 集成电路测试(50%) 集成电路的参数、基本功能及综合应用电路功能测试的正确性。 50 结果评分(客观) (4名裁判) 集成电路分拣(20%) 选手分拣芯片正确性 20 结果评分(客观) (2名裁判) 集成电路应用(25%) 集成电路应用电路板的装配工艺 10 结果评分(主观) 3名裁判) 选手装配的应用功能电路板的功能正确性 15 结果评分(客观) 3名裁判) 职业素养(5%) 安全用电 2 过程评分(主观) (3名现场裁判) 环境清洁 1 操作规范 2 扣分项 超过规定时间补领元器件(每个) 1 过程评分(客观) (由相关裁判在测试过程中评判) 更换测试及应用电路装配芯片(限3次) 4 更换测试工装(限1次) 5 更换应用功能电路板(限1次) 10 更换竞赛设备(限1次) 10 违纪扣分 视情节而定 裁判长 总计 100% 1)本次竞赛将根据参赛队情况邀请合适数量的裁判担任评判工作。 2)在竞赛过程中,参赛选手如有作弊、不服从裁判判决、扰乱赛场秩序等行为,裁判长按照规定扣减相应分数。情节严重的取消竞赛资格,竞赛成绩以0分计算。 3)参赛队成绩由赛项裁判组统一评定。采用分步得分、错误不传递、累计总分的计分方式。竞赛名次按照成绩总分从高到低排序。比赛用时不计入成绩,相同成绩的按比赛用时长短决定排名次序,用时少者排名在前。 4)赛项总成绩满分100分,只对参赛队团体评分,不计个人成绩。 5)最终成绩构成 赛项最终成绩由集成电路测试、集成电路分拣、集成电路应用及职业素养四部分成绩求和,并减去扣分项计算,得分相同的以集成电路应用,集成电路测试及集成电路分拣得分依次排名进行奖项排名。 6)集成电路应用功能验证每支参赛队有两次机会,取两次测试成绩中最高成绩为任务最终成绩。 7)裁判长在竞赛结束2小时内提交赛位号评分结果,经复核无误,由裁判长、监督人员和仲裁人员签字确认后公布。 8)裁判长正式提交赛位号评分结果并复核无误后,加密裁判在监督人员监督下对加密结果进行逐层解密。 9)为保障成绩评判的准确性,监督组对赛项总成绩排名前30%的所有参赛队伍的成绩进行复核;对其余成绩进行抽检复核,抽检覆盖率不低于15%。监督组需将复检中发现的错误以书面方式及时告知裁判长,由裁判长更正成绩并签字确认。若复核、抽检错误率超过5%,裁判组需对所有成绩进行复核。 10)本赛项各参赛队最终成绩由承办单位信息员录入赛务管理系统。承办单位信息员对成绩数据审核后,将赛务系统中录入的成绩导出打印,经赛项裁判长审核无误后签字。承办单位信息员将裁判长确认的电子版赛项成绩信息上传赛务管理系统,同时将裁判长签字的纸质打印成绩单报送大赛执委会。 六、赛点提供的设施设备仪器清单 (一)技术平台 序号 设备名称 型号 技术参数 1 集成电路教学测试平台 LK8

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