一种系统级DFT实现方法、系统、设备及介质.pdfVIP

一种系统级DFT实现方法、系统、设备及介质.pdf

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本发明公开了一种系统级DFT实现方法、系统、设备及介质,属于信息处理微系统设计领域,通过构建可测试性系统架构、搭建测试状态机和生成固化测试向量的方式,即通过系统架构分析优化、BIST测试控制逻辑的植入和测试向量实现等技术手段,从而实现信息处理微系统高度自测试、自评价,达到脱离外部测试设备的完全自测试,以满足在微系统研制过程中的测试筛选、故障分析定位和系统应用中的功能自检和软件智能化的要求;采用本方法开发的系统级DFT功能,功能覆盖率可做到100%,设计可行性高,测试设备依赖程度低,自动化程度高,

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117033112 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202310988910.4 (22)申请日 2023.08.07 (71)申请人 西安微电子技术研究所 地址 71

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