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本申请提供一种芯片测试系统和测试方法，该系统包括：测试机台，测试向量转换接口模块与测试引脚连接，用于获取测试向量；根据译码数据确定测试模式、测试命令、测试地址和测试数据，并输入嵌入式测试模块；将测试模式输入数模信号选择器模块；嵌入式测试模块包括多个寄存器，数模信号选择器与测试向量转换接口模块连接，用于输出数模控制信号到模拟模块；模拟模块与数模信号选择器连接，用于获取数模控制信号进行芯片测试。通过测试向量转换接口模块实现对测试向量的译码，选择不同的测试模式，无需提供多个测试引脚对应不同的测试模式，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117031256 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202311285310.8
(22)申请日 2023.10.07
(71)申请人 紫光同芯微电子有限公司
地址 1
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