元件缺陷检测方法及系统、存储介质.pdfVIP

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2023-11-11 发布于四川
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元件缺陷检测方法及系统、存储介质.pdf

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本发明涉及表面贴片设备技术领域，具体公开了一种元件缺陷检测方法及系统、存储介质，所述方法包括以下步骤：根据标准元件参数信息构建模板图像；识别待测元件图像并校正位姿，根据建模板图像获得ROI区域；根据模板图像校正ROI区域，以消除ROI区域中引脚的偏移；比对ROI区域中引脚信息和模板图像的引脚信息判断元件缺陷。该方案不需要使用实际拍摄的图像，直接利用标准元件的结构信息和相机信息，构建模板图像，鲁棒性更强；对待测元件图像以模板图像为基准进行ROI区域提取和定位与校正，计算简洁高效，结果更加稳定。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117036351 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202311293493.8 (22)申请日 2023.10.09 (71)申请人合肥安迅精密技术有限公司地址