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一种芯片防破拆功能自动检测方法及相关装置.pdfVIP

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  • 2023-11-25 发布于四川
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一种芯片防破拆功能自动检测方法及相关装置.pdf

    本申请提供一种芯片防破拆功能自动检测方法及相关装置，方法包括：控制器接收测试指令，测试指令包括测试类型、测试通道总数和报警参数，调用递归函数计算得到测试类型对应的全部测试组合。控制器将测试类型、报警参数和全部测试组合发送至目标芯片。控制器控制继电器切换每个测试组合对应的测试通道的通道连接状态，获取不同的通道连接状态下全部测试组合对应的全部测试通道的报警状态，根据报警状态确定目标芯片的防破拆功能是否正常。通过利用控制器计算得到全部测试组合并且利用继电器自动实现每个测试组合的测试通道的通道连接状态的

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117110846 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202311374040.8 (22)申请日 2023.10.23 (71)申请人 紫光同芯微电子有限公司 地址 1

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