一种发光二极管加工用晶片检测系统.pdfVIP

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2023-11-25 发布于四川
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一种发光二极管加工用晶片检测系统.pdf

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本发明涉及发光二极管加工用晶片检测技术领域，尤其是一种发光二极管加工用晶片检测系统，包括晶片检测器和薄板，所述薄板的顶部等距连接有调整结构，所述晶片检测器的正面下方左右两侧分别固接有第一方板，所述第一方板的顶部连接有控制结构，将发光二极管插入圆环内部，底部与晶片检测器顶部探针接触，消除了发光二极管加工用晶片检测系统的使用局限性，移动插杆与晶片检测器正面的槽口插接，实现导线收置，消除了发光二极管加工用晶片检测系统的使用危险性，使竖板挡在插入导线的前方，确保发光二极管加工用晶片检测系统正常使用，保证

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117116841 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202311097836.3 (22)申请日 2023.08.29 (71)申请人山西八斗科技有限公司地址 03