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本实用新型公开一种超声发射芯片测试装置，包括，功能母板，上电可以使该芯片进入正常工作模式；二元顶针固定板，使顶针在母板上不移动；对齐板，用于顶针对齐；交接板，用于连接一元顶针和二元顶针；铝合金座，固定一元顶针和HDL6M05585芯片；铜柱，位于功能母板和交接板之间，起支撑作用，用于保护顶针。本实用新型的一种超声发射芯片测试装置，1、测试座更换芯片方便，不需要焊接，可快速安装拆出被测芯片；2、一元顶针和铝合金框架组合成测试座，一元顶针和芯片接触良好，被测芯片准确度高，不会因为接触不良或焊接而误断
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 220120942 U
(45)授权公告日 2023.12.01
(21)申请号 202321409738.4
(22)申请日 2023.06.05
(73)专利权人 深圳市恩普电子
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