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2023-12-20 发布于四川
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本申请公开了一种芯片测试系统和方法。芯片测试系统包括依次连接的上位机、主控平台以及被测单元，上位机用于根据测试工程加载测试指令，将测试指令发送至主控平台，并接收主控平台返回的测试结果，主控平台用于解析接收到的测试指令，配置与测试指令对应的测试操作，以对被测单元中的目标端口上的待测芯片进行测试，并查询测试结果，被测单元包括多个统一接口的芯片连接板，分别接入多个待测芯片，被测单元用于在上电后执行对应的测试操作。本申请实施例构建了一种集合了多量下载、自动测试、记录验证结果等功能的芯片测试系统，可通用多

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117250483A

(43)申请公布日2023.12.19

(21)申请号202311533564.7

(22)申请日2023.11.17

(71)申请人深圳市航顺芯片技术研发有限公司

地

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