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2020年年AECQ100详详解解::起起源源、、包包含含项项⽬⽬及及⽬⽬的的作作⽤⽤
AECQ100的起源
AEC全称:AutomotiveElectronicsCouncil,中⽂名:汽车电⼦协会。由Chrysler(克斯勒)、Ford(福特)、GM(通⽤)发起并
于1994年创⽴。
AEC⽬的:针对车载应⽤,汽车零部件,汽车车载电⼦实施标准规范,建⽴车载电⼦部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准,
提⾼车载电⼦的稳定性和标准化。
AECQ即国际汽车电⼦协会车规验证标准。包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q10(离散光电LED)、AEC-
Q104(多芯⽚组件)、AEC-Q00(被动组件)。进⼊汽车领域,则必须取得汽车电⼦协会的AECQ可靠度标准,以及零失效(Zero
Defect)的供应链质量管理标准IATF16949规范。
AEC-Q100包含项⽬
对汽车车载电⼦零部件测试标准以AEC-Q100-(001~01),AEC-Q101,AEC-Q00为最常见。其中AEC-Q100是AEC的第⼀个标
准,于1994年6⽉⾸次发表,现经过了⼗多年的发展,AEC-Q100已经成为汽车电⼦系统的通⽤标准。对于车⽤芯⽚来说AEC-Q100也
是最常见的应⼒测试(StressTest)认证规范。
AEC-Q100详细规定了⼀系列的测试,同时定义了应⼒测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试
群组:
测测试试群群组组A(环环境境压压⼒⼒加加速速测测试试,,AcceleratedEnvironmentStress)
测测试试群群组组B(使使⽤⽤寿寿命命模模拟拟测测试试,,AcceleratedLifetimeSimulation)
测测试试群群组组C(封封装装组组装装整整合合测测试试,,PackageAssemlyIntegrity)
测测试试群群组组D(芯芯⽚⽚晶晶圆圆可可靠靠度度测测试试,,DieFaricationReliaility)
测测试试群群组组E(电电⽓⽓特特性性确确认认测测试试,,ElectricalVerification)
测测试试群群组组F(瑕瑕疵疵筛筛选选监监控控测测试试,,DefectScreening)
测测试试群群组组G(封封装装凹凹陷陷整整合合测测试试,,CavityPackageIntegrity)
此外,为了达到汽车电⼦产品对⼯作温度、耐久性与可靠度的⾼标准要求,组件供货商必须采⽤更先进的技术和更苛刻的测试程序来
达成最佳化的设计⽅法。因此,AEC-Q100⼜分为不同的产品等级,其中第⼀级标准的⼯作温度范围在-40⾄15之间;最严格的第0级
标准⼯作温度范围可达到-40⾄150。
AEC在AEC-Q100之后⼜陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q00等规范,以及AEC-
Q001/Q00/Q003/Q004等指导性原则(Guideline)。
以下供⼤家参考使⽤:
AEC-Q100Rev-Gase:集集成成电电路路的的应应⼒⼒测测试试标标准准((不不包包含含测测试试⽅⽅法法))
AEC-Q100-001邦邦线线切切应应⼒⼒测测试试
AEC-Q100-002⼈⼈体体模模式式静静电电放放电电测测试试
AEC-Q100-003机机械械模模式式静静电电放放电电测测试试
AEC-Q100-004集集成成电电路路闩闩锁锁效效应应测测试试
AEC-Q100-005可可写写可可擦擦除除的的永永久久性性记记忆忆的的耐耐久久性性、、数数据据保保持持及及⼯⼯作作寿寿命命的的测测试试
AEC-Q100-006热热电电效效应应引引起起的的寄寄⽣⽣闸闸极极漏漏电电流流测测试试
AEC-Q100-007故故障障仿仿真真和和测测试试等等级级
AEC-Q100-008早早期期寿寿命命失失效效率率((ELFR))
AEC-Q100-009电电分分配配的的评评估估
AEC-Q100-010锡锡球球剪剪切切测测试试
AEC-Q100-011带带电电器器件件模模式式的的静静电电放放电电测测试试
AEC-Q100-01212V系系统统灵灵敏敏功功率率设设备备的的短短路路可可靠靠性性描描述述
AEC-Q101Rev-C:分分⽴⽴半半导导体体元元件件的的应应⼒⼒测测试试标
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