基圆齿距比较仪校准规范.docxVIP

JJF1123—2004

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调整固定量爪螺杆周定量爪紧固螺钉定位量爪活动量爪

调整固定量爪螺杆周定量爪紧固螺钉定位量爪活动量爪

基圆齿距比较仪校准规范

1范围

本规范适用于分度值为1μm,模数为2mm～20mm的基圆齿距比较仪的校准。

2引用文献

下列文献所包含的条文，通过在本规范中的引用而构成本规范的条文。本规范出版时，所示版本均为有效。所有标准、规范或规程都会被修订，使用本规范的各方应探讨使用下列文献最新版本的可能性。

JJG1001—1998通用计量术语及定义

JJG1059—1999测量不确定度评定与表示

GB/Z18620.1—2002圆柱齿轮检验实施规范第1部分：轮齿同侧齿面的检验

3概述

基圆齿距比较仪根据测量爪与齿面接触的接触形式，分为触刃式和切线式两种，用于测量外啮合直齿轮、斜齿轮的基圆齿距偏差。

测量基圆齿距时须预先借助于量块与校对夹具组成的基圆齿距名义尺寸对基圆齿距比较仪测量爪进行调整，使指示表对零；然后将基圆齿距比较仪的定位量爪及固定量爪跨压在被测齿面上，活动量爪与另一齿面相接触，微微摆动基圆齿距比较仪，指示表上转折点的示值即为被测齿轮基圆齿距偏差。

典型的基圆齿距比较仪的外形如图1、图2所示。

调整固定量爪螺杆

调整固定量爪螺杆

活动量爪固定量爪定位量爪调整定位量爪螺杆

图1

触刃式

图2切线式

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4计量特性

4.1前、后校对块工作面的平面度

平面度不大于0.3μm(离边缘0.5mm内不计)。

4.2前、后校对块工作面的平行度

平行度不大于0.5μm(离边缘0.5mm内不计)。

4.3前、后校对块工作面的研合性

前、后校对块应能互相研合。

4.4前、后校对块工作面的重合性

前、后校对块研合后,其另一块工作面应在同一平面上,其差值不大于0.5μm。4.5指示表

符合相应检定规程(或校准规范)的要求。

4.6重复性

重复性不大于0.2μm。

4.7示值误差

示值误差不应超过表1的规定。

表1示值误差

指示表类型

基圆齿距比较仪分度值

最大允许示值误差

±0.02mm范围

±0.05mm范围

1mm范围

测微表

1μm

±1μm

±2μm

———

±2μm

±4μm

———

千分表

1μm

———

———

±5μm

注:作为校准,不判断出合格与否,上述计量特性的指标仅供参考。

5校准条件

5.1环境条件

5.1.1校准基圆齿距比较仪时的温度为(20±6)℃;校准前、后校对块时的温度为(20±2)℃;

5.1.2被校准仪器在室内平衡温度的时间不少于4h。

5.2校准项目和标准器

5.2.1前、后校对块的校准项目及相应标准器见表2。

5.2.2基圆齿距比较仪的校准项目及相应标准器见表3。

6校准项目和校准方法

校准前应确认无影响校准正确实施和校准结果的外观缺陷和机械故障。

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表2前、后校对块的校准项目及相应标准器

序号

校准项目

标准器

1

前、后校对块工作面的平面度

2级平面平晶

2

前、后校对块工作面的平行度

立式光学计

3

前、后校对块工作面的研合性

4

前、后校对块工作面的重合性

立式光学计

表3基圆齿距比较仪的校准项目及相应标准器

序号

校准项目

标准器

1

指示表

按相应检定规程(或校准规范)

2

示值重复性

4等量块

3

示值误差

4等量块

6.1前、后校对块工作面的平面度

用2级平晶以光波干涉法进行测量。

6.2前、后校对块工作面的平行度

用立式光学计在校对块工作面上均匀分布五点进行校准，如图3所示，其五点之间最大读数差即为工作面的平行度。

图3前后校对块工作面受检点示意图图4前后校对块研合示意图

6.3前、后校对块工作面的研合性

把后校对块的挡板拆下，将其工作面研合在前校对块工作面上，当拿住其中一块转

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动90°时,另一块不应因自重而脱落。

6.4前、后校对块工作面的重合性

将后校对块的挡板拆下,前、后校对块工作面研合在一起,如图4所示。在立式光学计上对A面和B面进行测量,两者读数差即为重合性。

6.5指示表

按照相应检定规程(或校准规范)进行检定(或校准)。

6.6重复性

按校准示值误差方法,在任一受检点上进行五次重复测量,其重