硅基薄膜光伏组件光致衰退测试方法-编制说明.docxVIP

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☆内部

编制说明模板

《硅基薄膜光伏组件光致衰退测试方法》（征求意见稿）

编制说明

一、工作简况

（任务来源、工作过程、主要参加单位和工作组成员。）

1、任务来源

为认真贯彻落实新版《中华人民共和国标准化法》、《团体标准管理规定（试行）》等有关规定，结合行业发展需要，为企业深入实践创新驱动发展战略提供指引，根据《中国科技产业化促进会团体标准制定管理办法》，2018年10月7日中国科技产业化促进会下达了《2018年第三批中国科技产业化促进会团体标准项目计划》，由汉能薄膜发电集团有限公司负责组织《硅基薄膜光伏组件光致衰退测试方法》团体标准的制定工作，计划编号为T/CSPSTC-3-JH2018103。

2、主要工作过程

汉能薄膜发电集团有限公司为了完成中国科技产业化促进会下达的《硅基薄膜光伏组件光致衰退测试方法》标准编制任务，组织团队对硅基薄膜光伏组件光致衰退现象的测试装置、程序、计算方法等内容进行了详细的调研，结合汉能在薄膜太阳能电池领域的研究经验，并结合相关的国内、国际标准进行对比分析，已保证该团标的先进性及实用性。

2018年11月27日在北京召开了《硅基薄膜光伏组件光致衰退测试方法》团体标准研讨会，会议由中国科技产业化促进会标准化技术委员会组织，与会人员涵盖了科研院校、使用单位、检测机构等领域的专家，与会专家就标准的范围、术语与定义、主要内容等方面进行了讨论。

3、主要参加单位和工作组成员

主编单位：汉能薄膜发电集团有限公司

参编单位：浙江正泰太阳能科技有限公司、中国标准化研究院、中国电子工业标准化技术协会、中国质量认证中心、中国泰尔实验室、鉴衡认证中心河北大学、河北汉盛光电科技有限公司北京信息科技大学

二、编制原则和主要内容

1、编制原则

本标准结合，以体现标准的科学性、先进性、合理性及实用性为原则，充分满足使用者的要求。

本标准按照GB/T1.1-2000《标准化工作导则》的要求进行格式、结构的编排。

2、主要内容

本标准是在汉能主编的SEMI国际标准SEMIPV73-0216TestMethodForThin-FilmSiliconPhotovoltaic(PV)ModulesLightSoaking的基础上结合IEC61215-1-3:2016Terrestrialphotovoltaic(PV)modules-Designqualificationandtypeapproval-Part1-3:Specialrequirementsfortestingofthin-filmamorphoussiliconbasedphotovoltaic(PV)modules中初始老化的要求和测试方法，形成标准草案。（1）主要内容包括范围、术语和定义、装置、

本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰退的测试方法；

本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。

（2）术语和定义

a)硅基薄膜光伏组件；

b)光致衰退。

（3）装置

a)太阳模拟器类型；

b)以监测累积辐射量的标准装置；

c)参考器件；

d)安装方法；

e)组件温度范围内；

f)以监控组件温度的温度传感器；

g)电阻类负载或最大功率点追踪器(MPPT)。

5抽样

抽样方法；

抽样个数；

抽样标准。

（4）、程序、计算、试验报告。

a)选取任意合适的组件温度，按照IEC61215-2MQT02测试每个组件的最大输出功率，对于后续中间功率值的测量，其温度可控制在该温度的±2℃的温度范围内；

b)用制造商推荐的安装方式将组件和标准器件安装在相同的太阳模拟器测试平面，并给组件连接负载；

c)记录辐照度，累计辐照量，温度和组件的电阻负载；

d)每个组件按照IEC61215-2MQT19的规定，进行至少连续2个时段的辐照，直到最大功率值稳定；

e)光照后应按照IEC61215-2MQT02测试最大输出功率。光照后的30min至60min内按照IEC61215-2MQT06.1测试STC下的最大功率；

f)在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中，每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值，。最小辐照周期为43kwh/m2，。所有组件的最大功率值测量应在4a)选择的温度的±2℃范围内。

g)按照IEC61215-2MQT19的规定组件达到稳定后（IEC61215-1-3：2016中规定（PMAX-PMIN）/PAVE≤2%），持续光照，功率仍旧出现持续下降的趋势。本标准给出以下方程式作为判定组件光致衰减是否达到最终稳定的准则：

此处，Pmax、Pmin和Paverage为连续两个周期中测得的三个STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。

（5）计算

计算公式；

影响