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2024-02-03 发布于四川
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一种便捷式SLT高低温测试设备平台.pdf

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本发明属于芯片测试技术领域，具体为一种便捷式SLT高低温测试设备平台，包括底座，底座的顶部一侧固定有Tray盘运载轨道，Tray盘运载轨道内置有Tray盘，底座的顶部另一侧固定有测试模组，测试模组的顶部开设有多个均布的测试槽。本发明通过旋转臂对芯片进行转运，自动完成了测试前的准备工作以及测试后的下料工作，不仅解放了人的双手，而且在品质提升方面优于人工操作，主要体现在上述中的自动吸取芯片、自动控制压接行程、自动转运芯片等方面，防止芯片掉落损坏，防止芯片压接接触不良，防止人为误触高低温环境而发生安全

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117491846A

(43)申请公布日2024.02.02

(21)申请号202311590985.3

(22)申请日2023.11.24

(71)申请人沛顿科技（深圳）有限公司

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